Axio Observer

用于材料检验、开发和分析的倒置显微镜

利用倒置显微镜 Axio Observer 快速分析金相样品，即使在切换物镜和更换金相样品时也无需重新聚焦。Axio Observer 将蔡司的光学品质和自动化组件结合在一起，使系统更稳定，重复操作更简便。使用软件进行分析，比如非金属夹杂物和晶粒尺寸的分析测量。

Axio Observer 是开放的成像平台：按照目前的需求进行配置，无论何时分析研究需求有变化时，可根据新的需求升级系统。

3种主机可选

Axio Observer 有3种不同的主机，可根据不同的自动化要求进行选择。

观察方式的选择

明场和暗场中均匀以及无杂散光的成像背景 - 减少杂散光和色差。

配备偏光观察方式 - 利用固定式检偏器可360°旋转进行检测，或是利用具有全波段可旋转的旋转式检偏器。呈现各向异性样品的双反射和多色性，即使没有配备旋转载物台也可实现。

利用圆微分干涉观察方式 (C-DIC)，一种利用圆偏光原理的偏光元件。  

观察方式的选择

明场和暗场中均匀以及无杂散光的成像背景 - 减少杂散光和色差。

配备偏光观察方式 - 利用固定式检偏器可360°旋转进行检测，或是利用具有全波段可旋转的旋转式检偏器。呈现各向异性样品的双反射和多色性，即使没有配备旋转载物台也可实现。

利用圆微分干涉观察方式 (C-DIC)，一种利用圆偏光原理的偏光元件。